冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要針對電工電子產(chǎn)品及其原始設(shè)備，用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中重要的試驗(yàn)，在某些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱多用于高溫、低溫瞬時(shí)變化的條件下，環(huán)境模擬試驗(yàn)產(chǎn)品的物理特性及其它相關(guān)特性，經(jīng)檢驗(yàn)后，判定產(chǎn)品性能，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中是否仍能滿足預(yù)定的要求，改進(jìn)、鑒定和出廠檢驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱引起的失效現(xiàn)象如下所示：

為確保電子產(chǎn)品有高可靠性，除進(jìn)行相對固定的溫度、濕度試驗(yàn)外，隨著產(chǎn)品的耐濕性提高，對溫度沖擊試驗(yàn)的要求也不斷增加。

1.啟動馬達(dá)時(shí)周圍器件的溫度急劇上升，關(guān)閉馬達(dá)后周圍器件會出現(xiàn)溫度驟然下降；

2.溫度的過度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)；

3.在加工過程中，元件可能受到嚴(yán)重?zé)釕?yīng)力的影響，如：使用焊錫焊時(shí);

4.由于產(chǎn)品精度要求，使元件不斷遭受較大的熱應(yīng)力;

5.在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度；在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生反溫度梯度。