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電子元器件快速溫度變化試驗箱是專門用于檢測電子元器件性能的重要設(shè)備。它能夠在短時間內(nèi)實現(xiàn)大幅度的溫度快速變化，模擬苛刻環(huán)境。通過精準控溫，使電子元器件經(jīng)歷交替的熱脹冷縮，從而快速檢測出潛在的質(zhì)量問題和可靠性缺陷。這有助于提高電子元器件的質(zhì)量，減少產(chǎn)品在實際使用中的故障風(fēng)險，保障電子產(chǎn)品的穩(wěn)定運行，是電子元器件生產(chǎn)和研發(fā)過程中重要的檢測工具。

TEA-408PF快速溫度變化試驗箱主要用于電工、電子產(chǎn)品及其元器件，以及其他材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。它可用于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。 溫度參數(shù) 溫度范圍：-70℃～150℃。 溫度波動度：±0.5℃。 溫度偏差：±2.0℃。 升溫速率：線性（5/10/15/20）℃/min。 降溫速率：線性（5/10/15/20）℃/min。